Optisches Rasternahfeldmikroskop
Ein optisches Rasternahfeldmikroskop (auch SNOM: scanning nearfield optical microscope, in den USA z.T. auch als NSOM bezeichnet) umgeht die Auflösungsgrenze des optischen Mikroskops, indem es nur Licht auswertet, das zwischen einer sehr kleinen (100 Nanometer oder weniger) Nahfeldsonde und der untersuchten Probe ausgetauscht wird. Die Nahfeldsonde wird in einem Raster von Punkten über die Probe bewegt; die Information aus allen Punkten wird zu einem kompletten Bild der Probe zusammengesetzt.
Das verwendete Licht liegt in Form evaneszenter Wellen vor, die in ihrer Ausbreitungsrichtung exponentiell gedämpft sind und daher nur dann auswertbar sind, wenn die Nahfeldsonde weniger als etwa 20 Nanometer von der Probe entfernt ist. Dieses Licht wird daher auch als Nahfeldlicht bezeichnet.
Der Vorteil eines optischen Rasternahfeldmikroskops liegt darin, dass aus der konventionellen optischen Mikroskopie bekannte Kontrastmechanismen genutzt werden können, die Probe zerstörungsfrei untersucht wird und dass im Gegensatz zum Rastertunnelmikroskop die Abbildung nicht im Ultrahochvakuum durchgeführt werden muss.
Nachteile des SNOM sind
- die hohen Kosten, da zusätzlich das Prinzip eines AFM zur Rasterung benutzt wird,
- Schwierigkeiten bei der Auswertung der erhaltenen Daten (Auftreten von Artefakten)
- und anhaltende theoretische Probleme der Beschreibung des Abbildungsverfahrens.
Siehe auch Rastersondenmikroskopie
Weblinks
- www.nahfeldmikroskopie.de
- Konferenz über Nahfeldoptik - 2006 in Lausanne, Schweiz
- SNOM-Seite aus Martinsried (englisch)
Literatur
- Roland Wiesendanger: Scanning Probe Microscopy and Spectroscopy - Methods and Applications. Cambridge University Press, Cambridge 1994, ISBN 0-521-42847-5 (Englisch)