Rastersondenmikroskopie
Rastersondenmikroskopie (engl. scanning probe microscopy (SPM)) ist der Überbegriff für alle Arten der Mikroskopie, bei der das Bild nicht mit einer einzelnen Aufnahme erzeugt wird. Stattdessen wird die zu untersuchende Probe mittels einer Sonde in einem Rasterprozess Punkt für Punkt abgetastet. Der Begriff Sonde ist hierbei nicht wörtlich als ein materielles Gebilde zu verstehen. Es kann sich dabei z.B. auch um den Fokus eines Laser- oder Elektronenstrahles handeln. Die sich für jeden einzelnen Punkt ergebenden Meßwerte werden dann zu einen einzigen (digitalen) Bild zusammengesetzt.
Die heute am besten etablierten Methoden der Rastersondenmikroskopie sind:
- Rasterelektronenmikroskop, Abk. REM, engl. scanning electron microscope (SEM)
- Rastertunnelmikroskop, Abk. RTM, engl. scanning tunneling microscope (STM)
- Rasterkraftmikroskop, Abk. RKM, engl. atomic force microscope (AFM, auch SFM)
- Optisches Rasternahfeldmikroskop, engl. scanning near-field optical microscope (SNOM, auch NSOM)
- Konfokalmikroskop, engl. confocal laser scanning microscopy (CLSM)
Literatur
- Roland Wiesendanger: Scanning Probe Microscopy and Spectroscopy - Methods and Applications. Cambridge University Press, Cambridge 1994, ISBN 0-521-42847-5 (Englisch)
Kategorie:Messgerät